耦合器加热温升试验装置 测试耦合器在热条件耐热性能测试 耦合器加热温升检测设备

耦合器加热温升试验装置符合标准GB17465.1-2009第18条、图13以及IEC60320-1第18.2条及图13的要求，用于耦合器在热条件或酷热条件下的耐热性能测试。该装置由发热片和导热片、温控表、计时器、耦合器座子等组成。

耦合器加热温升试验装置主要技术参数：

1)供电电源：AC220V  50Hz；

2)加热温度：RT常温～200℃；

3)温度分辨率0.1℃，误差±1℃；

4)加热控制方式：温控表PID控制；

5)耦合器中心距：以Φ175的圆均布排列；

6)耦合器输入插座：

a)10A 耐热及耐酷热暗装式器具输入插座各一个，外壳为耐热绝缘材料（测试10A连接器）；

b)16A 耐酷热明装式器具输入插座，外壳为金属（测试16A连接器）；

7)计时器：1～9999h；

8)试样工位：6工位；

9)试样温度探头：6个；

10)试样温度探头类型：T型；

11)加热板尺寸：W200mm*D200mm。

操作步骤：

1)接上电源线于市电，同时打开电源开关

2)将试样置于耦合器座子上，并使温度探头与试样接触

3)在温控器上设置需要加热的zui大温度

4)按加热开关开始加热，同时按计时开关

5)当温度到达设定值后，计时器开始计时，计时到达后自动停止加热，在测试过程中，温度表时时显示试样的温度。