X射线镀层测厚仪

　　X射线镀层测厚仪原理及应用

　　X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

　　适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。

　　可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。

　　应用广泛，适应电镀生产企业，产品来料检测等。

　　仪器特点：

　　全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量

　　多功能、高精度、使用方便快捷。测量时间只需10秒；

　　可测0.03um-35um，精度可达正负5%以内适用范围广、操作简便。

　　功能及应用：

　　检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚

　　可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。

　　单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

　　双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

　　多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等?合金镀层：

　　铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

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